摘要:采用磷硼共擴散的方法制備了N型高效雙面電池,通過優(yōu)化背場及發(fā)射極擴散工藝,研究了擴散工藝曲線對電池電性能參數(shù)的影響機理。實驗結(jié)果表明,降低背場擴散方塊電阻可提高電池填充因子,同時造成開路電壓(Voc)和短路電流(Isc)降低,需要在背場飽和電流密度(J0BSF)和填充因子(FF)之間找到一個平衡點;降低發(fā)射極表面雜質(zhì)濃度和方塊電阻并適當?shù)脑黾咏Y(jié)深,可改善與金屬化柵線的接觸。正面采用低濃度深結(jié)擴散工藝可改善voc和ff,減少復合,提高Isc,電池效率增加了0.2%,平均效率達到20.41%。
近年來,晶硅太陽電池產(chǎn)品價格大幅下降推動著低成本、高效率太陽電池技術(shù)的發(fā)展。常規(guī)太陽電池的技術(shù)發(fā)展已到瓶頸階段,很難有新的突破。背鈍化的PERC電池盡管能達到21%的電池效率,但是其組件端的衰減沒有得到很好的解決。在此形勢下,設(shè)計一款高效率并適用于規(guī)?;a(chǎn)的電池結(jié)構(gòu)顯得尤為重要。HIT和IBC結(jié)構(gòu)的N-Si太陽電池盡管效率較高,但由于這兩種n型電池的制備過程與目前的p型si太陽電池的制備工藝不兼容,而且工藝復雜,導致了制備成本高。具有雙面細柵線結(jié)構(gòu)的N-pert電池兼顧了低成本、高效率兩大特點,且n型晶硅電池具有少子壽命高、無光致衰減、弱光響應(yīng)好、溫度系數(shù)小等天然優(yōu)勢,成為行業(yè)關(guān)注和研究的熱點。
在N-pert結(jié)構(gòu)中,P-N結(jié)及背場的形成是獲得高效率電池的關(guān)鍵步驟。有很多形成P-N結(jié)的方法,比較簡單的如在n型si基體背面絲網(wǎng)印刷Al漿燒結(jié)形成P-N結(jié),此方法雖然成本有優(yōu)勢但絲網(wǎng)印刷al漿燒結(jié)工藝用在N型電池中形成p型發(fā)射極還處在研究階段,存在很多待解決的問題;也可以在硅片上面沉積一層非晶硅形成異質(zhì)結(jié)構(gòu)的發(fā)射極,同時起到很好的表面鈍化效果,這種高效電池整個制備過程必須在200℃以下的溫度下形成。
在商業(yè)化生產(chǎn)中通常采用硼原子摻雜的方法形成P-N結(jié),可以用pecvd或apcvd在n型襯底上外延硼摻雜的SiO2,再在高溫下剝離。另一方面可以將硼原子注入到硅片,再高溫退火。一個簡單且被廣泛應(yīng)用于規(guī)?;a(chǎn)的方法就是直接將BBr3或bcl3源熱擴散到N型硅片中。相比于印刷或旋涂硼漿來說,用氮氣攜帶液態(tài)BBr3進行管式擴散效果最好,該方法有利于避免金屬污染,硅片少子壽命比用其它方法擴散的樣品高5倍以上。
發(fā)射極和背場的制備需經(jīng)歷兩次高溫過程,在硅片兩面分別形成具有一定濃度梯度分布的發(fā)射極曲線和背場是一個技術(shù)難點,且柵線與發(fā)射極、背場間形成良好的接觸是提高轉(zhuǎn)換效率的關(guān)鍵。本文采用熱擴散的方法對N型基體進行正背面摻雜,研究發(fā)射極和背場的擴散對雙面電池電學性能的影響機理,所得結(jié)果對深入理解擴散工藝、提高太陽能電池轉(zhuǎn)換效率具有參考價值。
1.1 電池結(jié)構(gòu)圖
N-pert是發(fā)射極鈍化全背場擴散電池,是最早由新南威爾士大學研發(fā)的一種N型硅電池。其結(jié)構(gòu)特點是正面使用硼擴散形成發(fā)射極,背表面磷擴散全覆蓋以降低電池的背面接觸電阻和復合速率,然后在正背面絲網(wǎng)印刷電極,是一種典型的雙面電池,其結(jié)構(gòu)如圖1所示。
1.2電池工藝流程
實驗選用156.75mm×156.75mm直拉n型單晶硅片,厚度為190mm,電阻率為1~5Ω·cm。首先通過堿制絨在硅片兩面形成隨機的金字塔結(jié)構(gòu),再利用化學溶液進行背面腐蝕拋光,增加長波光的反射和減小表面復合。然后磷硼共擴散在前表面形成P+發(fā)射極以及背面橫向?qū)щ娦缘膎+背場;再經(jīng)過等離子刻邊絕緣和化學清洗去掉表面玻璃層及形成SiO2鈍化層,然后通過pecvd技術(shù)在正、背面制備鈍化和減反射膜,雙面絲網(wǎng)印刷金屬化過程;最后用遠紅外加熱爐帶共燒結(jié)形成發(fā)射極、背場界面的歐姆接觸,其中背面采用開口網(wǎng)版圖案,很好的避免P型電池全鋁背場印刷造成電池彎曲的情況。在25℃、AM1.5、1000w/cm2的標準條件下用halm測試系統(tǒng)測試電池片I-V特性。
用電化學C-V法(ECV)測硅片表面摻雜的雜質(zhì)濃度分布如圖2所示,可以看出硅片表面硼原子濃度比較高,達到2×1020cm-3,結(jié)深在0.6mm,較高的表面濃度和擴散深度保證了與柵線良好的接觸。其中先形成的背面磷雜質(zhì)在發(fā)射極的高溫擴散過程中進一步推進使得n+層結(jié)變深,結(jié)深在1.2mm左右。在電池結(jié)構(gòu)中,磷背場、硼發(fā)射極及其與電極的接觸對電池效率產(chǎn)生較大的影響,因此分別對它們進行分析。由于金屬電極與P+發(fā)射極接觸不良會產(chǎn)生較大的復合,導致電池產(chǎn)生較大的開路電壓損耗(ΔVoc),由implied Voc降低到Voc(ΔVoc=Voc,impl.-Voc),implied Voc的計算方法如下:
其中k為玻爾茲曼常量,t為溫度,q為電子電荷電量,Nd為硅片基體摻雜濃度,ni為本征載流子濃度,Δn是在1個標準光強下的過剩載流子濃度。因為在金屬化之前硅片表面已經(jīng)有較高的飽和電流密度(J0BSF),導致了Voc,impl.或極限開路電壓(Voc,lim)的降低:
通過增大發(fā)射極結(jié)深同時降低峰值及表面濃度,可改善其與柵線的接觸,降低開壓損耗進而提高Voc和Isc。
2.1 背場濃度優(yōu)化
通常采用對bsf重摻雜降低薄層電阻,提高橫向?qū)щ娦缘姆椒▉砀纳苀f,但是背場重摻雜會產(chǎn)生大的俄歇復合而影響Voc和Isc。richter等人通過PC1D模擬n-pert結(jié)構(gòu)中全鋁背場和有鈍化層局部接觸的背場兩種情況下Voc隨背表面摻雜濃度的關(guān)系,發(fā)現(xiàn)局部接觸情況下Voc隨背場摻雜濃度降低而升高,與全鋁背場不同。不僅BSF摻雜深度,而且其表面及峰值濃度對電性能也起到至關(guān)重要的作用??紤]到這些影響,逐步降低背場磷擴散方塊電阻(從G1→G4),均分四組硅片,分別采用G1→G4對應(yīng)的擴散工藝制作電池,得到電池各參數(shù)與背場方塊電阻的關(guān)系如圖3所示。隨著背場方塊電阻的降低,Voc和Isc逐步降低,F(xiàn)F逐漸升高。
式中pff可通過Suns-Voc測量得出,試驗中隨著方塊電阻降低,Rseries也逐漸減小,從公式(3)可以推導出ff將逐漸升高,同時背面較深的nn+結(jié)也會導致ff升高。但是重摻雜的磷背場鈍化效果較差,產(chǎn)生較大的J0bsf影響電池的Voc和Isc,因此優(yōu)化背面方阻需在J0bsf和ff之間找到一個平衡點。四組試驗中G3組電池效率最高,考慮到硼發(fā)射極擴散會對背場濃度造成影響,因此背場選擇G3組所對應(yīng)的摻雜工藝再對發(fā)射極曲線進行分析。
2.2 發(fā)射極濃度優(yōu)化
優(yōu)化發(fā)射極結(jié)深實現(xiàn)金屬柵線與P-N結(jié)良好的接觸是獲得高效率太陽電池的關(guān)鍵。從圖2的ECV曲線中可以看出硅片表面硼原子濃度較高(2×1020cm-3),且濃度梯度趨勢變化較小,發(fā)射極的薄層電阻與表面雜質(zhì)濃度和擴散結(jié)深度的乘積成反比:
式中ρ為擴散薄層的平均電阻率,xj為擴散結(jié)深,N(x)為摻雜的平均雜質(zhì)濃度,μ為遷移率,q為單位面積擴散層內(nèi)的摻雜劑總量,從公式中可以看出方塊電阻和硅片表面雜質(zhì)濃度和擴散結(jié)深有關(guān),與單位面積擴散層內(nèi)的凈雜質(zhì)總量q成反比。選擇背面最優(yōu)的摻雜工藝逐步降低硅片正表面硼原子峰值濃度(G1→G3),以及對應(yīng)的擴散深度和方塊電阻值的變化如表1所示,均分三組硅片分別用G1、G2、G3對應(yīng)的工藝擴散。
低表面濃度的深結(jié)發(fā)射極擴散(G2)對應(yīng)Voc提高4mV,發(fā)射極方塊電阻的降低和結(jié)深增加使得ff增加了0.33%,但是Isc損失較多。在調(diào)整發(fā)射極G2工藝的基礎(chǔ)上進一步降低峰值濃度,同時獲得適當?shù)慕Y(jié)深和方塊電阻值(G3),在保持Voc和FF增益的同時減少復合,提高Isc,電池轉(zhuǎn)換效率提高0.2%,電池效率達到20.41%。低表面濃度的深結(jié)擴散工藝可增加短波區(qū)藍光響應(yīng)、降低發(fā)射極缺陷密度和減小復合速率。
2.3 生產(chǎn)線數(shù)據(jù)分析
對優(yōu)化發(fā)射極工藝的G3組數(shù)據(jù)做分布統(tǒng)計如圖5所示,可以看出總數(shù)200片的電池實驗品中,電池效率分布較集中,平均值為20.41%,最高效率達到20.69%,電性能參數(shù)如表2中所示。
利用磷硼共擴散的方法制備了N型高效雙面電池,20.41%的效率,最高轉(zhuǎn)換效率達到20.69%,且效率分布較集中。
作者:馬繼奎,任軍剛,董鵬,宋志成,程基寬,郭永剛
文章來源:光電子技術(shù)