近日，由漢能控股主導(dǎo)編制的《硅基薄膜光伏元件光致衰退測(cè)試方法》（SEMI PV 73-0216）正式發(fā)布，并獲得SEMI頒發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)證書。

據(jù)了解，《硅基薄膜光伏元件光致衰退測(cè)試方法》國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的編撰過程歷時(shí)一年半，該標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)IEC61646-2008標(biāo)準(zhǔn)的重要補(bǔ)充，也是目前世界上唯一針對(duì)硅基薄膜光伏元件的“光老化”測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，適用于單結(jié)、雙結(jié)和三結(jié)各種類型的硅基薄膜光伏元件。

硅基薄膜光伏組件長(zhǎng)期受到光致衰退影響，表現(xiàn)在隨著光照時(shí)間增加電學(xué)性能逐漸降低，業(yè)界把這種現(xiàn)象稱作“光老化”。為增強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)的科學(xué)性、合理性，漢能控股與浙江正泰太陽(yáng)能科技有限公司、河北大學(xué)和河北漢盛光電科技有限公司成立了標(biāo)準(zhǔn)編制組，搜集了大量元件并對(duì)它們進(jìn)行了1000小時(shí)“光老化”試驗(yàn)，積累了充分資料，總結(jié)出了對(duì)硅基薄膜光伏元件光致衰退更完整描述的測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)。按照該推薦性測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試硅基薄膜光伏元件的光致衰退特性，其最終功率穩(wěn)定性將更可靠。2015年9月，該標(biāo)準(zhǔn)草案以100%的通過率獲得全球?qū)＜业囊恢抡J(rèn)同，并通過SEMI 標(biāo)委會(huì)所有程式審核，于今年3月向全球正式發(fā)布。

據(jù)悉，漢能控股正在制定的《銅銦鎵硒薄膜光伏組件》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，將是我國(guó)首個(gè)專門針對(duì)銅銦鎵硒薄膜光伏元件的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，不僅可以規(guī)范銅銦鎵硒薄膜光伏元件產(chǎn)品的特有性能及保障產(chǎn)品品質(zhì)，還能實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品制造與產(chǎn)品應(yīng)用之間的統(tǒng)一規(guī)范，對(duì)制造方、應(yīng)用方給予指導(dǎo)。漢能控股同時(shí)主導(dǎo)編制的《柔性薄膜光伏元件卷曲測(cè)試方法》SEMI國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，將填補(bǔ)“國(guó)際缺乏卷曲測(cè)試”這一空白，預(yù)計(jì)該標(biāo)準(zhǔn)將在2017年發(fā)布。