艾德太陽能科技有限公司單晶系列組件于近期通過了最為苛刻的PID測試，為第一家在TUV SUD通過此測試的企業(yè)。此結(jié)果證明了艾德單晶系列產(chǎn)品在最嚴酷的運行環(huán)境中，依然可以保障正常的功率輸出。

PID效應(yīng)(Potential Induced Degradation)是一種高強度負電壓誘發(fā)的組件性能降低現(xiàn)象。PID效應(yīng)在電站實際運行中并不鮮見，嚴重時甚至可引起組件功率衰減50%以上，從而導(dǎo)致整個電站的功率輸出下降，繼而嚴重損害投資者的利益。

目前, 行業(yè)對于PID的檢測并沒有統(tǒng)一的標準, 測試的方法主要有三種:

1) 85℃, 85%的絕對濕度, 外加1,000V的負向電壓，測試96小時；

2) 常溫環(huán)境下, 外加1,000V的負向電壓，測試168小時；

3) 60℃, 85%的絕對濕度, 外加1,000V的負向電壓，測試168小時。

其中，行業(yè)公認第一種測試方法最為苛刻，而國內(nèi)僅有TüV SüD實驗室具有檢測條件。而艾德，為第一家通過100小時嚴苛測試的企業(yè)；組件測試前后的衰減比率不超過3%（測試標準為不超過5%）。

艾德組件通過TüV SüD全面的，嚴謹?shù)臏y試和驗證，不僅代表著其單晶系列產(chǎn)品具有優(yōu)質(zhì)，穩(wěn)定，可靠的安全品質(zhì)，同時標志著此系列產(chǎn)品性能已經(jīng)達到同行業(yè)領(lǐng)先水準。正因如此，根據(jù)客戶回饋，裝有艾德組件的電站，最高輸出功率比模擬理論測試值高出29.56%( 以歐洲最權(quán)威的光伏輸出功率模擬軟件PVSYST來計算）。