艾德太陽(yáng)能科技有限公司單晶系列組件于近期通過(guò)了最為苛刻的PID測(cè)試，為第一家在TUV SUD通過(guò)此測(cè)試的企業(yè)。此結(jié)果證明了艾德單晶系列產(chǎn)品在最嚴(yán)酷的運(yùn)行環(huán)境中，依然可以保障正常的功率輸出。

PID效應(yīng)(Potential Induced Degradation)是一種高強(qiáng)度負(fù)電壓誘發(fā)的組件性能降低現(xiàn)象。PID效應(yīng)在電站實(shí)際運(yùn)行中并不鮮見(jiàn)，嚴(yán)重時(shí)甚至可引起組件功率衰減50%以上，從而導(dǎo)致整個(gè)電站的功率輸出下降，繼而嚴(yán)重?fù)p害投資者的利益。

目前, 行業(yè)對(duì)于PID的檢測(cè)并沒(méi)有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn), 測(cè)試的方法主要有三種:

1) 85℃, 85%的絕對(duì)濕度, 外加1,000V的負(fù)向電壓，測(cè)試96小時(shí)；

2) 常溫環(huán)境下, 外加1,000V的負(fù)向電壓，測(cè)試168小時(shí)；

3) 60℃, 85%的絕對(duì)濕度, 外加1,000V的負(fù)向電壓，測(cè)試168小時(shí)。

其中，行業(yè)公認(rèn)第一種測(cè)試方法最為苛刻，而國(guó)內(nèi)僅有TüV SüD實(shí)驗(yàn)室具有檢測(cè)條件。而艾德，為第一家通過(guò)100小時(shí)嚴(yán)苛測(cè)試的企業(yè)；組件測(cè)試前后的衰減比率不超過(guò)3%（測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為不超過(guò)5%）。

艾德組件通過(guò)TüV SüD全面的，嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試和驗(yàn)證，不僅代表著其單晶系列產(chǎn)品具有優(yōu)質(zhì)，穩(wěn)定，可靠的安全品質(zhì)，同時(shí)標(biāo)志著此系列產(chǎn)品性能已經(jīng)達(dá)到同行業(yè)領(lǐng)先水準(zhǔn)。正因如此，根據(jù)客戶(hù)回饋，裝有艾德組件的電站，最高輸出功率比模擬理論測(cè)試值高出29.56%( 以歐洲最權(quán)威的光伏輸出功率模擬軟件PVSYST來(lái)計(jì)算）。