太陽能設(shè)備商奇裕暨奇元裕公司與AET Technologies共同于今年SNEC展籌辦研討會，針對LID光衰問題提出解決方案。借由快速含氧量檢測，可幫助外延片與電池廠商提升產(chǎn)品品質(zhì)，對抗LID。

研討會中，除了有AET Technologies所屬的AET Solar Tech技術(shù)專家分享氧含量檢測技術(shù)及最新即時檢測機臺設(shè)備Oxymap之外，也特別邀請到法國太陽能機構(gòu)(INES) 的首席研究專家說明快速量測氧含量的原理及掌握LID 光衰減的運用。此外，會中還深入探討此一含氧檢測技術(shù)實際運用在AL-BSF & PERC的情形。不少外延片制造及電池片重要業(yè)者出席，現(xiàn)場十分熱烈。

近年來太陽能市場持續(xù)成長，在全世界市場需求的推動下，各家廠商紛紛投入資源開發(fā)新一代技術(shù)。然而對電池片制造商而言，取得有品質(zhì)保障的外延片往往受限于現(xiàn)有檢測技術(shù)與不利條件，例如特制的受測樣本及長久的檢測時間等。隨著PERC的興起，LID光衰減的議題也愈受重視，有鑑于此，對外延片中氧含量的快速有效檢測變得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 設(shè)備則可以直接檢測量產(chǎn)外延片的氧含量并精準(zhǔn)掌握LID光衰表現(xiàn)，未來期待能協(xié)助業(yè)界掌握外延片品質(zhì)，加強LID光衰減及LIR光還原的工藝開發(fā)。

奇裕暨奇元裕公司大中華區(qū)總經(jīng)理簡聰明說：“感謝AET Technologies與奇裕公司一同介紹先進技術(shù)方案給予大中華區(qū)客戶。其Oxymap 氧含量檢測技術(shù)，肯定能協(xié)助客戶了解如何改善其產(chǎn)品及技術(shù)，進而提供高效產(chǎn)品；奇裕將持續(xù)提供客戶全方位的技術(shù)支援，并滿足客戶多元化的需求?！?/p>