太陽(yáng)能設(shè)備商奇裕暨奇元裕公司與AET Technologies共同于今年SNEC展籌辦研討會(huì)，針對(duì)LID光衰問(wèn)題提出解決方案。借由快速含氧量檢測(cè)，可幫助外延片與電池廠(chǎng)商提升產(chǎn)品品質(zhì)，對(duì)抗LID。

研討會(huì)中，除了有AET Technologies所屬的AET Solar Tech技術(shù)專(zhuān)家分享氧含量檢測(cè)技術(shù)及最新即時(shí)檢測(cè)機(jī)臺(tái)設(shè)備Oxymap之外，也特別邀請(qǐng)到法國(guó)太陽(yáng)能機(jī)構(gòu)(INES) 的首席研究專(zhuān)家說(shuō)明快速量測(cè)氧含量的原理及掌握LID 光衰減的運(yùn)用。此外，會(huì)中還深入探討此一含氧檢測(cè)技術(shù)實(shí)際運(yùn)用在AL-BSF & PERC的情形。不少外延片制造及電池片重要業(yè)者出席，現(xiàn)場(chǎng)十分熱烈。

近年來(lái)太陽(yáng)能市場(chǎng)持續(xù)成長(zhǎng)，在全世界市場(chǎng)需求的推動(dòng)下，各家廠(chǎng)商紛紛投入資源開(kāi)發(fā)新一代技術(shù)。然而對(duì)電池片制造商而言，取得有品質(zhì)保障的外延片往往受限于現(xiàn)有檢測(cè)技術(shù)與不利條件，例如特制的受測(cè)樣本及長(zhǎng)久的檢測(cè)時(shí)間等。隨著PERC的興起，LID光衰減的議題也愈受重視，有鑑于此，對(duì)外延片中氧含量的快速有效檢測(cè)變得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 設(shè)備則可以直接檢測(cè)量產(chǎn)外延片的氧含量并精準(zhǔn)掌握LID光衰表現(xiàn)，未來(lái)期待能協(xié)助業(yè)界掌握外延片品質(zhì)，加強(qiáng)LID光衰減及LIR光還原的工藝開(kāi)發(fā)。

奇裕暨奇元裕公司大中華區(qū)總經(jīng)理簡(jiǎn)聰明說(shuō)：“感謝AET Technologies與奇裕公司一同介紹先進(jìn)技術(shù)方案給予大中華區(qū)客戶(hù)。其Oxymap 氧含量檢測(cè)技術(shù)，肯定能協(xié)助客戶(hù)了解如何改善其產(chǎn)品及技術(shù)，進(jìn)而提供高效產(chǎn)品；奇裕將持續(xù)提供客戶(hù)全方位的技術(shù)支援，并滿(mǎn)足客戶(hù)多元化的需求?！?/p>